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J-GLOBAL ID：202203018424033060

サイレージ等の乾物密度を推定する方法及び装置

Inventor：
大越 安吾

About 大越 安吾


Applicant, Patent owner：
地方独立行政法人北海道立総合研究機構

About 地方独立行政法人北海道立総合研究機構


Agent (1)： 特許業務法人ピー・エス・ディ
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019035053
Publication number (International publication number)：2020139825
Patent number：7193846
Application date： Feb. 28, 2019
Publication date： Sep. 03, 2020
Claim (excerpt)：
【請求項1】 サイレージ及びその原料(以下、「サイレージ等」という。)の乾物密度を推定する方法であって、 堆積したサイレージ等にシャフトを貫入させるステップと、 前記サイレージ等と前記シャフトとの間の摩擦抵抗値を測定するステップと、 摩擦抵抗値とサイレージ等の乾物密度との間の予め求められた相関関係に基づいて、測定された摩擦抵抗値に対応する前記サイレージ等の乾物密度を求めるステップとを含み、 前記サイレージ等と前記シャフトとの間の摩擦抵抗値は、前記サイレージ等に貫入させた前記シャフトを該シャフトの軸周りに回転させたときの回転抵抗値若しくは前記サイレージ等から前記シャフトを引き抜くときの引抜抵抗値のいずれか、又はこれらの組み合わせであることを特徴とする乾物密度推定方法。
IPC (2)：
G01N 9/00 ( 200 6.01) ,  G01L 5/00 ( 200 6.01)
FI (2)：
G01N 9/00 Z ,  G01L 5/00 G
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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