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J-GLOBAL ID：202303004067841604

材料解析システム、材料解析方法、および材料解析プログラム

Inventor： 山本 明保 ,  小原 拓也
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東京農工大学
Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  諏澤 勇司 ,  保坂 一之
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019161138
Publication number (International publication number)：2021039021
Patent number：7299615
Application date： Sep. 04, 2019
Publication date： Mar. 11, 2021
Claim (excerpt)：

【請求項1】 少なくとも一つのプロセッサを備え、 前記少なくとも一つのプロセッサが、 材料の微細組織を写した材料画像を取得し、 前記材料画像を解析することで観察対象の相の位置を識別し、 前記相の位置に基づいて前記材料の微細組織に対応する輸送モデルを生成し、 前記輸送モデルに基づいて、前記微細組織に対応する移動物理量の分布を含む輸送特性を算出し、 前記輸送特性を示す輸送特性データを出力する、材料解析システム。

IPC (3)：

G01N 21/27 ( 200 6.01) ,  G01N 33/00 ( 200 6.01) ,  H10N 60/01 ( 202 3.01)

FI (3)：

G01N 21/27 A ,  G01N 33/00 A ,  H10N 60/01 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 電極の評価方法および評価装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-180025   Applicant：株式会社住化分析センター
• R-T-B系磁石合金の金属組織評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-257671   Applicant：昭和電工株式会社
• MgB2超電導薄膜線材およびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2017-093226   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平2-153803