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J-GLOBAL ID：201702219881557642   整理番号：17A0328372

SOI技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 20:サブピクセルレベルでのX線性能評価(2)

著者 (22件)： 玉澤晃希 (東京理大) ,  小木曽祐 (東京理大) ,  大野顕司 (東京理大) ,  根岸康介 (東京理大) ,  鑓田敬吾 (東京理大) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  鶴剛 (京大) ,  田中孝明 (京大) ,  武田彩希 (京大) ,  内田裕之 (京大) ,  松村英晃 (京大) ,  伊藤真音 (京大) ,  大村峻一 (京大) ,  林秀輝 (京大) ,  森浩二 (宮崎大) ,  西岡祐介 (宮崎大) ,  武林伸明 (宮崎大) ,  横山聖真 (宮崎大) ,  新井康夫 (KEK) ,  三好敏喜 (KEK) ,  倉知郁生 (KEK) ,  中島真也 (ISAS)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2017  号： 春季  ページ： 233  発行年： 2017年02月28日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線スペクトロメータ ,  性能評価 ,  画素 ,  *SOI構造 ,  *ピクセル検出器 ,  検出効率 ,  天文衛星 ,  X線天文衛星 ,  飛翔体
準シソーラス用語： *X線撮像分光器 ,  サブピクセル ,  SOI技術 ,  XRPIX

分類 (1件)： 天文学・天体物理学一般  (DB03000B)

タイトルに関連する用語 (5件)： SOI技術 ,  X線撮像分光器 ,  開発 ,  X線 ,  性能評価