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J-GLOBAL ID：201702246409440505   整理番号：17A0440741

過渡パルスが二重フィルタリング可能で,オンライン自己回復型の,ラッチ

A transient pulse dually filterable and online self-recoverable latch

著者 (4件)： Yan Aibin (School of Computer Science and Technology, Anhui University) ,  Liang Huaguo (School of Electronic Science & Applied Physics, Hefei University of Technology) ,  Lu Yingchun (School of Electronic Science & Applied Physics, Hefei University of Technology) ,  Huang Zhengfeng (School of Electronic Science & Applied Physics, Hefei University of Technology)
資料名： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electronics Express (Web))
巻： 14  号： 2  ページ： 20160911(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U0039A  ISSN： 1349-2543  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,過渡パルスが二重フィルタリング可能で,オンライン自己回復型の(PDFSRと呼ぶ)ラッチを提案した。C要素のソフトエラーマスキング特性に基づき,Schmittインバータと組み合わせた遅延パスを使用して,単一イベント過渡現象(SET)パルスを二重フィルタリングできた。一方,複数のC要素の相互フィードバック機構でデータを保持するように構成し,ラッチを単一イベント転覆現象(SEU)から自己回復可能にした。シミュレーション結果は,類似のラッチと比較して,平均で2.0%の面積-電力-遅延積の増加の犠牲で,SETフィルタリング能力およびSEU回復力を実証した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： ソフトエラー ,  *フィルタリング ,  回線接続 ,  *回復 ,  *修理 ,  *過渡現象 ,  *ラッチ回路 ,  *SEU【シングルイベント】 ,  Schmittトリガ回路
準シソーラス用語： Schmitt回路 ,  *SET【シングルイベント】 ,  オンライン ,  スイッチング過渡 ,  *自己回復

著者キーワード (3件)： single event transient ,  single event upset ,  latch design

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  制御方式  (JC02030K)

引用文献 (11件)：

• [1] Y. Liet al.: “Overcoming early-life failure and aging for robust systems,” IEEE Des. Test Comput. 26 (2009) 28 (DOI: 10.1109/MDT.2009.152).
• [2] V. Ferlet-Cavroiset al.: “Single event transients in digital CMOS - A review,” IEEE Trans. Nucl. Sci. 60 (2013) 1767 (DOI: 10.1109/TNS.2013.2255624).
• [3] S. Linet al.: “Design and performance evaluation of radiation hardened latches for nanoscale CMOS,” IEEE Trans. Very Large Scale Integr. (VLSI) Syst. 19 (2011) 1315 (DOI: 10.1109/TVLSI.2010.2047954).
• [4] H. K. Alidash and V. G. Oklobdzija: “Low-power soft error hardened latch,” J. Low Power Electron. 6 (2010) 218 (DOI: 10.1166/jolpe.2010.1073).
• [5] H. Nanet al.: “High performance, low cost, and robust soft error tolerant latches for nanoscale CMOS technology,” IEEE Trans. Circuits Syst. I 59 (2012) 1445 (DOI: 10.1109/TCSI.2011.2177135).

タイトルに関連する用語 (4件)： パルス ,  フィルタリング ,  オンライン ,  自己回復