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J-GLOBAL ID：201702248923178897   整理番号：17A0362455

フラッシュに基づくFPGAにおける放射線誘起SETの予測について【Powered by NICT】

On the prediction of radiation-induced SETs in flash-based FPGAs

著者 (3件)： Azimi S. (Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy) ,  Du B. (Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy) ,  Sterpone L. (Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 64  ページ： 230-234  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,フラッシュベースFPGAデバイスのシリコン構造内での放射線誘発シングルイベント過渡現象(SET)現象を予測する方法を提案した。法は,モンテカルロ分析,放射衝突により生成された一度SETの有効持続時間と振幅を計算できるに基づいている。法は,過渡効果現象に対する回路の感度を効率的に特性化を可能にした。実験結果は,種々の放射試験データの比較,異なる線エネルギー付与(LET)とSETのそれぞれの感度とを提供する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： キャラクタリゼーション ,  モンテカルロ法 ,  線エネルギー付与 ,  *FPGA ,  継続時間 ,  *放射線
準シソーラス用語： 試験データ ,  SET【シングルイベント】 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 放射線感受性 ,  シングルイベント過渡現象 ,  予測 ,  フォールトトレランス ,  フラッシュベースFPGA

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： フラッシュ ,  FPGA ,  放射線 ,  誘起 ,  SET ,  予測