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J-GLOBAL ID：201702256910985548   整理番号：17A0362531

発光ダイオードモジュールの劣化に及ぼすストレス負荷試験法の影響【Powered by NICT】

Effects of stress-loading test methods on the degradation of light-emitting diode modules

著者 (10件)： Cai Miao (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Yang Daoguo (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Zheng Jianna (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Huang Jianlin (Institute of Microsystems and Nanoelectronics (Dimes), Delft University of Technology, Delft, The Netherlands) ,  Liu Dongjing (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Xiao Jing (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Zhang Ping (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Zhang Guoqi (School of Mechanical and Electrical Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, China) ,  Zhang Guoqi (Institute of Microsystems and Nanoelectronics (Dimes), Delft University of Technology, Delft, The Netherlands) ,  Chen Xianping (College of Optoelectronic Engineering, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 64  ページ： 635-639  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,各種ストレス負荷試験アプローチ,即ち,昇圧ストレス加速劣化試験,降圧応力加速劣化試験(SDSADT),および一定応力加速劣化試験による発光ダイオード(LED)ランプモジュールの分解を調べた。熱散逸(CHDs)の異なる能力を持った二種類の市販LEDランプの実験で利用されている。二種類のLEDパッケージのLM,80試験は,ランプBの分解反応を再現する結果はSDSADTは光学パラメータの初期増加を効果的に軽減できることを示した。強いCHDのランプBはステップストレス試験の各応力で類似した内腔減衰速度を示しこの類似性は,ランプBの崩壊速度は電流負荷応力にのみ関係することを意味している。熱応力が増加してもランプBの初期減衰経路の内腔減衰速度は放物線則を示した。放物型パターンは,LEDパッケージのためのLM8試験で検出され,ランプBの強いCHDにより説明される,LEDの発光に影響する,熱的に誘起された機構は放物線減衰則の原因である。,負荷応力の増加とともにLEDモジュールの色シフトは内腔分解より敏感であった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 低血圧症 ,  分解反応 ,  類似性 ,  電流 ,  *発光ダイオード ,  *負荷試験 ,  熱応力
準シソーラス用語： 減衰率 ,  光学パラメータ ,  LEDランプ ,  熱散逸 ,  加速劣化試験 ,  昇電圧 ,  試験方法 ,  *ストレス負荷 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： LEDランプモジュール ,  降圧ストレス加速劣化試験 ,  ステップストレス加速劣化試験 ,  一定ストレス加速劣化試験 ,  Degradation ,  熱散逸の能力

分類 (2件)： 光源,照明器具  (NB12020F) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 発光ダイオードモジュール ,  ストレス負荷 ,  試験法