Sun Yabin について
Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, Department of Electrical Engineering, East China Normal University, Shanghai, 200241 について
Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China について
Wang Yudong について
Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China について
Zhou Wei について
Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China について
Liu Zhihong について
Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China について
Li Xiaojin について
Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, Department of Electrical Engineering, East China Normal University, Shanghai, 200241 について
Shi Yanling について
Shanghai Key Laboratory of Multidimensional Information Processing, Department of Electrical Engineering, East China Normal University, Shanghai, 200241 について
Microelectronics Reliability について
バイアス について
放電路 について
パルスレーザ照射 について
指数関数 について
電圧 について
パルス について
放電 について
時定数 について
電荷収集 について
過渡電流 について
比較研究 について
実験研究 について
バイアス依存性 について
SET【シングルイベント】 について
レーザ誘起 について
SiGeH BT について
シングルイベント過渡現象 について
バイアス依存性 について
パルスレーザ照射 について
トランジスタ について
BT について
パルス について
レーザ誘起 について
シングルイベント過渡現象 について
バイアス依存性 について
実験的研究 について