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J-GLOBAL ID：200902204517763523   整理番号：09A0691059

放射光STMによるナノスケール表面分析 金属-半導体界面における元素コントラストの評価

著者 (19件)： 齋藤彰 (大阪大 大学院) ,  齋藤彰 (理研/SPring-8) ,  齋藤彰 (JST-さきがけ) ,  細川博正 (大阪大 大学院) ,  細川博正 (理研/SPring-8) ,  田中武拓 (大阪大 大学院) ,  田中武拓 (理研/SPring-8) ,  高木康多 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  野津浩史 (大阪大 大学院) ,  野津浩史 (理研/SPring-8) ,  田中義人 (理研/SPring-8) ,  香村芳樹 (理研/SPring-8) ,  赤井恵 (大阪大 大学院) ,  赤井恵 (JST-さきがけ) ,  石川哲也 (理研/SPring-8) ,  辛埴 (理研/SPring-8) ,  桑原裕司 (大阪大 大学院) ,  桑原裕司 (理研/SPring-8) ,  青野正和 (物質・材料研究機構)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 22nd  ページ： 102  発行年： 2009年 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  *表面分析 ,  シンクロトロン放射 ,  ナノ構造 ,  ゲルマニウム ,  *ヘテロ接合 ,  銅 ,  コントラスト ,  元素分析 ,  *X線トポグラフィー ,  *表面構造 ,  ナノスケール ,  X線マイクロビーム ,  *界面構造 ,  *構造
準シソーラス用語： トンネル電流

分類 (1件)： 半導体の表面構造  (BK15030A)

タイトルに関連する用語 (8件)： 放射光 ,  STM ,  ナノスケール ,  表面分析 ,  金属-半導体界面 ,  元素 ,  コントラスト ,  評価