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J-GLOBAL ID:200902209343401807   整理番号:05A0852208

熱処理に伴うHfSiOx/SiO2/Si構造の界面酸化反応のX線CTR散乱測定

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著者 (10件):
資料名:
巻: 2005  号: 秋季(CD-ROM)  ページ: J45  発行年: 2005年09月01日 
JST資料番号: Y0914A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (1件):
分類
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薄膜成長技術・装置 
タイトルに関連する用語 (6件):
タイトルに関連する用語
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