特許
J-GLOBAL ID:200903057523439739

半導体レーザ装置およびその製造方法ならびにそれを用いた半導体レーザジャイロ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 鎌田 耕一 ,  黒田 茂
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-144643
公開番号(公開出願番号):特開2007-317804
出願日: 2006年05月24日
公開日(公表日): 2007年12月06日
要約:
【課題】好ましい誘電体多層膜を端面に備える半導体レーザ装置を製造する方法を提供する。【解決手段】本発明の製造方法は、基板11上に、活性層を含む半導体多層膜20を形成する工程(i)と、半導体多層膜20をエッチングすることによって、外側に向かって凸の曲面を有するように第1および第2の端面を露出させる工程(ii)と、気相成長法によって第2の端面24bに反射膜15(誘電体多層膜)を堆積させる工程(iii)とを含む。 工程(iii)は、半導体多層膜20の上面側を第1の板71で押さえ、基板11の裏面側を第2の板72で押さえた状態であって、且つ第2の端面24bが第1の板71よりも距離H(20μm以上)突出した状態で行われる。【選択図】図7
請求項(抜粋):
互いに対向する第1および第2の端面を備え、前記第1の端面からレーザ光を出射する半導体レーザ装置の製造方法であって、 (i)基板上に、活性層を含む半導体多層膜を形成する工程と、 (ii)前記半導体多層膜をエッチングすることによって、外側に向かって凸の曲面を有するように前記第1および第2の端面を露出させる工程と、 (iii)気相成長法によって前記第2の端面に誘電体膜(A)を堆積させる工程とを含み、 前記(iii)の工程は、前記半導体多層膜の上面側を第1の板で押さえ、前記基板の裏面側を第2の板で押さえた状態であって、且つ前記第2の端面が前記第1の板よりも20μm以上突出した状態で行われる半導体レーザ装置の製造方法。
IPC (1件):
H01S 5/22
FI (1件):
H01S5/22 610
Fターム (15件):
5F173AA32 ,  5F173AB49 ,  5F173AH02 ,  5F173AH14 ,  5F173AL03 ,  5F173AL05 ,  5F173AL13 ,  5F173AP33 ,  5F173AR92 ,  5F173MA10 ,  5F173MB03 ,  5F173MC30 ,  5F173ME22 ,  5F173MF02 ,  5F173MF28
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 半導体レーザ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-020755   出願人:株式会社国際電気通信基礎技術研究所
審査官引用 (12件)
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