特許
J-GLOBAL ID:200903096040913788
三次元測距装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
橋本 薫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-321060
公開番号(公開出願番号):特開2008-134163
出願日: 2006年11月29日
公開日(公表日): 2008年06月12日
要約:
【課題】信頼性の高い走査式二次元測距装置を用いて、測距対象となる三次元領域を均一な密度で効率良く計測できる安価な三次元測距装置を提供する。【解決手段】投光部から出力された測定光を第一軸心P1周りに回転走査して測定対象空間に照射する第一回転機構と、測定対象物からの反射光に基づいて測定対象物までの二次元の距離を算出する演算手段を備えてなる走査式二次元測距装置100と、走査式二次元測距装置100を第一軸心P1と斜交する第二軸心P2周りに回転駆動して第一軸心P1のロール角度及びピッチ角度を変化させる第二回転機構20を備え、第二回転機構20は第二軸心P2と直交する第三軸心P3周りに揺動支持する第一ブラケット22と、第一軸心P1上の所定位置にフリージョイント機構24を介して連結された回転アーム26と、回転アーム26を回転させる駆動機構28で構成される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
投光部から出力された測定光を第一軸心周りに回転走査して測定対象空間に照射する第一回転機構と、測定対象物からの反射光を受光部で検出して測定光の出力から反射光の検出までの時間差に基づいて測定対象物までの距離を算出する演算手段を備えてなる走査式二次元測距装置と、前記走査式二次元測距装置を前記第一軸心と斜交する第二軸心周りに回転駆動して前記第一軸心のロール角度及びピッチ角度を変化させる第二回転機構と、前記第一回転機構と第二回転機構とを回転制御する回転制御手段を備えている三次元測距装置であって、
前記第二回転機構は、前記走査式二次元測距装置を前記第二軸心と直交する第三軸心周りに揺動支持する第一ブラケットと、前記走査式二次元測距装置の第一軸心上の所定位置にフリージョイント機構を介して連結された回転アームと、前記回転アームを回転させる駆動機構で構成され、前記回転アームを前記第二軸心周りに回転させることにより前記走査式二次元測距装置を第三軸心周りに揺動させる三次元測距装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G01S17/89
, G01C3/06 120Q
, G01C3/06 140
Fターム (17件):
2F112AD01
, 2F112BA02
, 2F112BA03
, 2F112BA10
, 2F112BA18
, 2F112CA04
, 2F112DA08
, 2F112DA15
, 2F112DA25
, 2F112EA03
, 2F112EA05
, 5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084BA11
, 5J084BA48
, 5J084BB21
, 5J084EA05
引用特許: