特許
J-GLOBAL ID：200903037744084551
レーザ測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大塚 秀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-417468
公開番号（公開出願番号）：特開2005-180925
出願日： 2003年12月16日
公開日（公表日）： 2005年07月07日
要約：
【課題】 被測定物を複数位置から測定することにより、前記被測定物の3次元形状を、より全体的に測定することが可能なレーザ測定システムを提供すること。【解決手段】 レーザ測定装置101は、a位置及びb位置の各々において所定の基準位置T0又はT1を基準として、被測定物502の3次元形状を測定し、前記3次元形状の測定データをデータ処理コントローラ500に無線で送信する。データ処理コントローラ500は、レーザ測定装置101がa位置及びb位置で測定して得た被測定物502の部分的な3次元形状の測定データを合成することにより、被測定物502のより全体的な3次元形状を算出する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
レーザ光を使用して被測定物の3次元形状を測定するレーザ測定システムにおいて、
被測定物の3次元形状を測定する測定手段と、前記測定手段によって複数の位置で測定した前記被測定物の3次元形状に関する測定データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶した複数位置における測定データを合成することによって前記被測定物の3次元形状を算出する3次元形状算出手段とを備えて成ることを特徴とするレーザ測定システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/24 A
, G01B11/00 B
2F065AA04
, 2F065AA06
, 2F065AA19
, 2F065AA20
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC11
, 2F065CC13
, 2F065CC14
, 2F065DD11
, 2F065FF09
, 2F065FF13
, 2F065FF17
, 2F065FF28
, 2F065FF44
, 2F065FF65
, 2F065FF67
, 2F065GG06
, 2F065GG22
, 2F065GG23
, 2F065HH04
, 2F065JJ01
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ16
, 2F065JJ18
, 2F065LL00
, 2F065LL13
, 2F065LL17
, 2F065LL20
, 2F065LL22
, 2F065LL37
, 2F065MM16
, 2F065MM26
, 2F065MM28
, 2F065NN00
, 2F065PP03
, 2F065PP05
, 2F065PP11
, 2F065PP22
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
出願人引用 (2件)
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光計測システム
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-274123
出願人：科学技術振興事業団
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レーザ測距装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-388190
出願人：株式会社日立製作所
審査官引用 (2件)
引用文献：
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