特許
J-GLOBAL ID:200903037744084551

レーザ測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大塚 秀一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-417468
公開番号(公開出願番号):特開2005-180925
出願日: 2003年12月16日
公開日(公表日): 2005年07月07日
要約:
【課題】 被測定物を複数位置から測定することにより、前記被測定物の3次元形状を、より全体的に測定することが可能なレーザ測定システムを提供すること。【解決手段】 レーザ測定装置101は、a位置及びb位置の各々において所定の基準位置T0又はT1を基準として、被測定物502の3次元形状を測定し、前記3次元形状の測定データをデータ処理コントローラ500に無線で送信する。データ処理コントローラ500は、レーザ測定装置101がa位置及びb位置で測定して得た被測定物502の部分的な3次元形状の測定データを合成することにより、被測定物502のより全体的な3次元形状を算出する。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
レーザ光を使用して被測定物の3次元形状を測定するレーザ測定システムにおいて、 被測定物の3次元形状を測定する測定手段と、前記測定手段によって複数の位置で測定した前記被測定物の3次元形状に関する測定データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶した複数位置における測定データを合成することによって前記被測定物の3次元形状を算出する3次元形状算出手段とを備えて成ることを特徴とするレーザ測定システム。
IPC (2件):
G01B11/24 ,  G01B11/00
FI (2件):
G01B11/24 A ,  G01B11/00 B
Fターム (42件):
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA19 ,  2F065AA20 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC11 ,  2F065CC13 ,  2F065CC14 ,  2F065DD11 ,  2F065FF09 ,  2F065FF13 ,  2F065FF17 ,  2F065FF28 ,  2F065FF44 ,  2F065FF65 ,  2F065FF67 ,  2F065GG06 ,  2F065GG22 ,  2F065GG23 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL00 ,  2F065LL13 ,  2F065LL17 ,  2F065LL20 ,  2F065LL22 ,  2F065LL37 ,  2F065MM16 ,  2F065MM26 ,  2F065MM28 ,  2F065NN00 ,  2F065PP03 ,  2F065PP05 ,  2F065PP11 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 光計測システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-274123   出願人:科学技術振興事業団
  • レーザ測距装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-388190   出願人:株式会社日立製作所
審査官引用 (2件)
引用文献:
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