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J-GLOBAL ID：201002212933946495   整理番号：10A0462801

Sub-Geiger mode InGaAs APDを用いた光子検出器の動作検証

著者 (4件)： 辻野賢治 (JST-ERATO-SORST) ,  宮本義人 (早稲田大 理工) ,  片岡淳 (早稲田大 理工) ,  富田章久 (JST-ERATO-SORST)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 57th  ページ： ROMBUNNO.18A-L-1  発行年： 2010年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *アバランシェフォトダイオード ,  *光子計数 ,  *ヒ化ガリウムインジウム ,  化合物半導体 ,  GM計数管 ,  *赤外検出器 ,  近赤外線 ,  検出効率 ,  増幅器 ,  出力 ,  閾値 ,  半導体薄膜 ,  放射線検出器

分類 (2件)： 光導電素子  (NC03083X) ,  赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (4件)： InGaAs ,  APD ,  光子検出器 ,  動作検証