特許

J-GLOBAL ID：201803018679057415

X線撮像方法及びX線撮像装置

発明者： 志村 考功 ,  渡部 平司 ,  細井 卓治 ,  森本 直樹 ,  藤野 翔
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 前井 宏之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-216577
公開番号（公開出願番号）：特開2015-077289
特許番号：特許第6256941号
出願日： 2013年10月17日
公開日（公表日）： 2015年04月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 X線検出面と複数の点状のX線光源との間に配置された被写体に対し、前記複数のX線光源の各々から同時にX線を照射するステップと、 前記X線検出面に同時に照射された複数のX線の強度を検出し、前記検出された複数のX線の強度に対応する第1画像信号を生成するステップと、 前記複数のX線光源のそれぞれの位置情報と、前記複数のX線光源のそれぞれのX線強度情報とを用いて、前記第1画像信号をデコンボリューションすることにより、第2画像信号を生成するステップと、 を包含し、 前記複数のX線光源の各々は、静止した状態でX線を放出し、 前記位置情報は、測定系における前記複数のX線光源のそれぞれの座標を示す、X線撮像方法。

IPC (3件)：

A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  H05G 1/52 ( 200 6.01) ,  G01N 23/04 ( 201 8.01)

FI (5件)：

A61B 6/00 300 B ,  A61B 6/00 330 Z ,  A61B 6/00 ZDM ,  H05G 1/52 A ,  G01N 23/04

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-257762   出願人：コニカミノルタエムジー株式会社