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J-GLOBAL ID：200902216740046254   整理番号：08A0978744

K・Bミラー光学系によるXFELナノ集光システムの開発-大型X線集光ミラーの集光特性の評価-

著者 (15件)： 三村秀和 (大阪大) ,  森田晋也 (理研) ,  木村隆志 (大阪大) ,  山川大輔 (大阪大) ,  LIN W. (理研) ,  上原嘉宏 (理研) ,  松山智至 (大阪大) ,  湯本博勝 (JASRI/SPring-8) ,  大橋治彦 (JASRI/SPring-8) ,  西野吉則 (理研(SPring-8)) ,  玉作賢治 (理研(SPring-8)) ,  矢橋牧名 (理研(SPring-8)) ,  石川哲也 (理研(SPring-8)) ,  大森整 (理研) ,  山内和人 (大阪大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2008  号： 秋季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.F18  発行年： 2008年09月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *集光器 ,  *反射鏡 ,  研削 ,  化学結合 ,  *自由電子レーザ
準シソーラス用語： *集光装置 ,  *X線ミラー ,  ELID研削

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (8件)： ミラー ,  光学系 ,  XFEL ,  集光 ,  開発 ,  大型 ,  X線 ,  評価