特許
J-GLOBAL ID：201103061103641287
ナノ空隙制御による微粒子のサイズ分離分析法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐伯 憲生
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-064725
公開番号（公開出願番号）：特開2005-249753
特許番号：特許第4068581号
出願日： 2004年03月08日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レンズと平板の間に形成される空隙を利用して微粒子をそのサイズにより分離・分析する方法であって、レンズと平板の間に形成される両者の距離が連続的に小さくなる空隙部分に微粒子を含む溶液を注入し、当該微粒子を含む溶液中の微粒子をレンズの中心方向に向かって移動させ、当該微粒子がその大きさに応じた空隙の部分にトラップされることを利用して、微粒子をサイズによって分離し、微粒子がトラップされた位置の空隙間の距離を前記レンズと平板の間の光の干渉によって生じるニュートンリングによって測定することを特徴とする微粒子のサイズの分離・分析法。
IPC (4件)：
G01N 15/02 ( 200 6.01)
, G01N 1/00 ( 200 6.01)
, G01N 1/04 ( 200 6.01)
, G01N 15/14 ( 200 6.01)
G01N 15/02 F
, G01N 15/02 B
, G01N 1/00 101 A
, G01N 1/04 M
, G01N 15/14 D
