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J-GLOBAL ID:201802291249018779   整理番号:18A2052455

中性子反射率法を用いた塗布型有機EL素子の有機/有機界面構造評価

Neutron Reflectivity Study for Solution-processed Organic/Organic Interfacial Structures in Organic Light-emitting Devices
著者 (5件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: 183-186  発行年: 2018年11月10日 
JST資料番号: L4558A  ISSN: 1349-046X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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有機発光素子(OLED)における溶液と熱アニール処理した有機/有機界面構造を中性子反射率測定により調べた。2種類の溶液成長界面,高分子正孔輸送層(HTL)/小分子発光層(EML)および小分子EMLと小分子電子輸送層(ETL)界面を調べた。両過程において,高分子HTL/小分子EML界面で非対称拡散が観察されたが,小分子EML/小分子ETL界面では相互拡散が観察された。この違いは小分子と高分子間の拡散率の差に起因した。界面構造とそれらの特性の間の相関を調べるために,溶液成長させたOLEDを作製した。溶液成長による層間混合はデバイス特性に大きな影響をもたらした。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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発光素子 
引用文献 (9件):
  • [1] N. Aizawa et al., Nat. Commun. 5, 5756 (2014).
  • [2] Y.-J. Pu et al., Adv. Mater. 27, 1327 (2015).
  • [3] S. Ohisa et al., Adv. Mater. Interfaces 1, 1400097 (2014).
  • [4] S. Ohisa et al., ACS Appl. Mater. Interfaces 7, 20779 (2015).
  • [5] S. Ohisa et al., Nanoscale 9, 25 (2017).
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