Saccharomyces cerevisiae欠損株のゲノムワイドスクリーニングにより明かにされた凍結-融解ストレス耐性に必要な遺伝子の同定と分類

ANDO Akira; NAKAMURA Toshihide; MURATA Yoshinori; TAKAGI Hiroshi; SHIMA Jun

文献

J-GLOBAL ID：200902296147274830 整理番号：07A0363149

Saccharomyces cerevisiae欠損株のゲノムワイドスクリーニングにより明かにされた凍結-融解ストレス耐性に必要な遺伝子の同定と分類

Identification and classification of genes required for tolerance to freeze-thaw stress revealed by genome-wide screening of Saccharomyces cerevisiae deletion strains

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資料名：
巻： 7 号： 2 ページ： 244-253 発行年： 2007年03月
JST資料番号： W1670A ISSN： 1567-1356 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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