文献

J-GLOBAL ID：201702290441068112   整理番号：17A0606692

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップセンサー量産にむけた性能評価および品質検査手法開発

著者 (40件)： 伊藤拓実 (九大 理) ,  池田博一 (Open-It) ,  池田博一 (JAXA) ,  池野正弘 (Open-It) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  上野一樹 (Open-It) ,  上野一樹 (KEK 素核研) ,  内田智久 (Open-It) ,  内田智久 (KEK 素核研) ,  川越清以 (九大 理) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (Open-It) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  佐藤優太郎 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  調翔平 (九大 理) ,  調翔平 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  田中真伸 (Open-It) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  長澤翼 (九大 理) ,  長澤翼 (Open-It) ,  西村昇一郎 (九大 理) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  真玉将豊 (九大 理) ,  真玉将豊 (Open-It) ,  三部勉 (Open-It) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  村上武 (Open-It) ,  村上武 (KEK 素核研) ,  吉岡瑞樹 (Open-It) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17pA12-7  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *研究施設 ,  *μ粒子 ,  *磁気モーメント ,  レプトン崩壊 ,  *放射線検出器 ,  J-PARC
準シソーラス用語： *ミューオン ,  磁気能率 ,  シリコン検出器

分類 (3件)： レプトンによる反応・散乱  (BG04030C) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (8件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  量産 ,  性能評価 ,  品質検査 ,  手法 ,  開発