特許
J-GLOBAL ID：201303041334230038

検査装置、ロボット装置、検査方法及び検査プログラム

発明者：
南本 高志

南本 高志 について

, 
橋本 浩一

橋本 浩一 について

, 
井上 智博

井上 智博 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (2件)： 志賀 正武 ,  大浪 一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-020146
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160531
出願日： 2012年02月01日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
要約：
【課題】検査対象物体の外形の欠陥を高精度に検査する。【解決手段】検査装置は、検査対象物体を撮像して、検査対象物体の検査部位に相当する画像領域である検査領域が含まれる画像データを生成する撮像部と、画像データに含まれる各画素の画素値を平滑化して、平滑画像データを生成する平滑部と、画像データの画素と、当該画素に対応する平滑画像データの画素の画素値の差分を画素ごとに求めて、差分画像データを生成する差分部と、検査部位の検査基準としての基準画像データと差分画像データとの類似度に基づいて、検査対象物体が良品か否かを判定する判定部とを備えた。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
検査対象物体を撮像して、前記検査対象物体の検査部位に相当する画像領域である検査領域が含まれる画像データを生成する撮像部と、 前記画像データに含まれる各画素の画素値を平滑化して、平滑画像データを生成する平滑部と、 前記画像データの画素と、当該画素に対応する前記平滑画像データの画素の画素値の差分を画素ごとに求めて、差分画像データを生成する差分部と、 前記検査部位の検査基準としての基準画像データと前記差分画像データとの類似度に基づいて、前記検査対象物体が良品か否かを判定する判定部と を備えることを特徴とする検査装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88 ,  B25J 19/04 ,  G01N 21/84 ,  G01B 11/30
FI (4件)：
G01N21/88 J ,  B25J19/04 ,  G01N21/84 B ,  G01B11/30 A
Fターム (39件)：
2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM06 ,  2F065PP04 ,  2F065PP05 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR08 ,  2F065SS04 ,  2F065UU05 ,  2G051AA88 ,  2G051AA90 ,  2G051AB05 ,  2G051AC19 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051CD02 ,  2G051EA08 ,  2G051EB01 ,  2G051EB05 ,  2G051EC03 ,  3C707AS14 ,  3C707BS12 ,  3C707CS08 ,  3C707KS01 ,  3C707KT01 ,  3C707KT05 ,  3C707KT11 ,  3C707WA16
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM