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J-GLOBAL ID：201602214404716058   整理番号：16A0283119

高速走査型イオンコンダクタンス顕微鏡による細胞表面構造の非侵襲定量追跡

著者 (7件)： 井田大貴 (東北大 大学院) ,  高橋康史 (金沢大) ,  高橋康史 (JST-さきがけ) ,  熊谷明哉 (東北大) ,  珠玖仁 (東北大 大学院) ,  末永智一 (東北大 大学院) ,  末永智一 (東北大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 63rd  ページ： ROMBUNNO.21P-H113-7  発行年： 2016年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *表面 ,...
準シソーラス用語： イオンコンダクタンス顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 細胞構成体一般  (EF03010Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  細胞表面 ,  非侵襲 ,  定量 ,  追跡