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J-GLOBAL ID：201602248332754661   整理番号：16A1224165

Si/SiGe多重量子ドットの形成と電荷状態測定

著者 (14件)： 大塚朋廣 (理研 CEMS) ,  武田健太 (理研 CEMS) ,  米田淳 (理研 CEMS) ,  本田拓夢 (東京工大) ,  DELBECQ Matthieu (理研 CEMS) ,  ALLISON Giles (理研 CEMS) ,  MARX Marian (理研 CEMS) ,  中島峻 (理研 CEMS) ,  小寺哲夫 (東京工大) ,  小田俊理 (東京工大) ,  星裕介 (東大 生産技研) ,  宇佐美徳隆 (名古屋大 工) ,  伊藤公平 (慶応大) ,  樽茶清悟 (理研 CEMS)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 71  号： 2  ページ： ROMBUNNO.15aAB-10  発行年： 2016年09月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  *半導体材料 ,  *量子ドット ,  *状態 ,  *電荷 ,  *電気測定 ,  電子スピン ,  情報処理 ,  時間 ,  量子計算 ,  量子井戸 ,  ポテンシャル ,  ハニカム構造 ,  センサ ,  素子構造
準シソーラス用語： Si ,  *SiGe ,  *多重量子ドット ,  *電荷状態 ,  電気的測定 ,  量子情報処理 ,  コヒーレンス時間 ,  閉込めポテンシャル ,  電荷センサ

分類 (3件)： その他の計算機  (JC06020B) ,  その他の情報処理  (JE15050M) ,  電磁気的量の計測一般  (AD07010R)

タイトルに関連する用語 (4件)： Si ,  SiGe ,  多重量子ドット ,  電荷状態