特許
J-GLOBAL ID:201603001392987905

三次元測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 野▲崎▼ 照夫 ,  松下 昌弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-155876
公開番号(公開出願番号):特開2016-033463
出願日: 2014年07月31日
公開日(公表日): 2016年03月10日
要約:
【課題】 基準面に参照スポットを形成し撮像部材で取得した画像の参照スポットの移動状態を見て被測定物の存在を測定する三次元測定装置を提供する。【解決手段】 コヒーレント光により基準面21aに基準参照スポット像31aが正方格子状に規則的に並んだ基準パターン30aが成形される。基準面21aに測定対象物が現れその表面に参照スポットが形成されると、画像21aにおいては、基準参照スポット像31aがエピポーラ線E上を移動して移動参照スポット像32aとなる。画像21aを取得する第1フレームからその次の第2フレームにかけて基準参照スポット像31aが移動参照スポット像32aに移動するまでの移動距離L1が、移動参照スポット像32aと他の基準参照スポット像31aとの距離L2よりも短くなるように撮像条件を設定する。【選択図】図5
請求項(抜粋):
コヒーレント光を基準面に照射して複数の参照スポットを形成する光照射部材と、参照スポット像を取得する撮像部材と、判別部とが設けられており、 前記基準面では、複数の参照スポットが基準パターン上で規則的に配列し、被測定物体が前記光照射部と前記基準面との間に位置したときに、前記基準パターン上に位置していた参照スポットが、被測定物体の表面に移動し、 前記判別部では、前記画像上で参照スポット像が移動したら、移動後の参照スポット像が、基準パターン上に位置していた複数の参照スポット像のうちの最も距離が短いものから移動したと判定し、これにより被測定物体の存在が判別されることを特徴とする三次元測定装置。
IPC (1件):
G01B 11/24
FI (1件):
G01B11/24 K
Fターム (22件):
2F065AA04 ,  2F065AA09 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF48 ,  2F065FF61 ,  2F065HH03 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL42 ,  2F065LL51 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR08
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開平3-042507
  • 三次元形状測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-315211   出願人:住友大阪セメント株式会社
  • 状態解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-203968   出願人:住友大阪セメント株式会社, 学校法人慶應義塾
全件表示
審査官引用 (4件)
  • 特開平3-042507
  • 三次元形状測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-315211   出願人:住友大阪セメント株式会社
  • 状態解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-203968   出願人:住友大阪セメント株式会社, 学校法人慶應義塾
全件表示
引用文献:
前のページに戻る