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J-GLOBAL ID：201702225663536187   整理番号：17A0619302

高解像度電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡によるアルミダイガストの腐食特性の検証

著者 (12件)： 青柳重夫 (北斗電工) ,  松岡涼 (北斗電工) ,  松本尚志 (北斗電工) ,  松平昌昭 (北斗電工) ,  高橋康史 (金沢大) ,  高橋康史 (JST-さきがけ) ,  熊谷明哉 (東北大) ,  井田大貴 (東北大) ,  棟方裕一 (首都大東京) ,  珠玖仁 (東北大) ,  金村聖志 (首都大東京) ,  末永智一 (東北大)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集(CD-ROM)
巻： 84th  ページ： ROMBUNNO.1S27  発行年： 2017年03月17日 
JST資料番号： Y0048B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  *腐食機構 ,  *局部腐食 ,  マイクロプローブ ,  アルミニウム合金 ,  ダイカスト ,  ADC12 ,  ナノプローブ ,  *走査型電気化学顕微鏡 ,  *腐食挙動 ,  *機構 ,  *腐食
準シソーラス用語： *電気化学顕微鏡 ,  *腐食特性

分類 (4件)： 電気化学反応  (CB07050F) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  腐食  (WB03030B) ,  非鉄金属材料  (WE03000D)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高解像度 ,  電気化学 ,  イオン ,  コンダクタンス ,  顕微鏡 ,  腐食特性 ,  検証