文献

J-GLOBAL ID：201702286963643071   整理番号：17A0523783

機能性材料の局所構造解析のための最先端技術 結像系収差補正電子顕微鏡(収差補正TEM)を駆使した微細構造解析手法の進展

Advanced Analytical Methods for Atomic/Nanoscopic Localized Structures Utilizing Aberration-corrected Transmission Electron Microscopy.

著者 (1件)： 山崎順 (大阪大 超高圧電子顕微鏡セ)
資料名： 触媒  (Catalysts & Catalysis)
巻： 59  号： 2  ページ： 82-88  発行年： 2017年04月10日 
JST資料番号： F0319A  ISSN： 0559-8958  CODEN： SHKUAJ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 結像系収差補正電子顕微鏡(収差補正TEM)の特長を最大限に引き出した一連の原子レベル・ナノレベル局所構造解析手法を紹介する。レンズ収差が無い利点とその特性を生かした原子位置直読観察法,電子線透過方向への分解能を生かした三次元情報計測やアモルファス内部クラスターの検出法など,最先端測定の有用性を解説する。(著者抄録)

シソーラス用語： *機能材料 ,  *構造 ,  *構造解析 ,  *収差補正 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  配列 ,  非晶質 ,  クラスタ ,  表面構造 ,  酸化マグネシウム ,  酸化セリウム ,  炭化ケイ素 ,  ナノ粒子
準シソーラス用語： 界面構造 ,  *機能性材料 ,  *局所構造 ,  金ナノ粒子 ,  原子配列

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

引用文献 (14件)：

• M. Haider, H. Rose, S. Uhlemann, B. Kabius, K. Urban, J. Electron Microsc., 47, 395 (1998)
• H. Yoshida, Y. Kuwauchi, J. R. Jinschek, K. Sun, S. Tanaka, M. Kohyama, S. Shimada, M. Haruta, S. Takeda, Science, 335, 317 (2012)
• K. Yoshida, J. Yamasaki, N. Tanaka, Appl. Phys. Lett., 84, 2542 (2004)
• 田中信夫,“電子線ナノイメージング”,内田老鶴舗(2009)
• N. Tanaka, J. Yamasaki, K. Usuda, N. Ikarashi, J. Electron Microsc., 52, 69 (2003)

タイトルに関連する用語 (11件)： 機能性材料 ,  局所構造 ,  解析 ,  最先端技術 ,  結像 ,  収差補正 ,  電子顕微鏡 ,  TEM ,  微細構造 ,  解析手法 ,  進展