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J-GLOBAL ID：200902107698890380   整理番号：00A0430493

単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について

Test Generation for Double Stuck-at Faults with Single Redundant Fault.

著者 (3件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高橋直子 (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 99  号： 614(FTS99 75-84)  ページ： 31-37  発行年： 2000年02月09日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 単一冗長故障のみが存在する回路は,テストにおいて正常と判断さ...

シソーラス用語： 冗長性 ,...

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分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (5件)：

• 南山哲郎. 組合せ回路における冗長故障の判定法に関する考察. 信学論D-1. 1998, J81-D-1, 10, 1149-1156
• IYER, M. A. Low-cost redundancy identification for combinational circuits. Proc. VLSI Design, Jan. 1994. 1994, 315-318
• IYER, M. A. FIRE : A fault-independent combinational redundancy identification algorithm. IEEE Trans. VLSI Systems. 1996, June, 295-301
• 梶原誠司. 検出不能故障のクラス化による組合せ回路の冗長除去について. 信学論D-1. 1992, 75, 2, 107-115
• KAJIHARA, S. Cost-Effective Generation of Minimal Test Sets for Stuck-at Faults in Combinational Logic Circuits. IEEE Trans. CAD. 1995, 14, 12, 1496-1504

タイトルに関連する用語 (4件)： 冗長 ,  故障 ,  縮退故障 ,  テスト生成