研究者
J-GLOBAL ID:200901015939774829
更新日: 2024年07月17日
高松 雄三
タカマツ ユウゾウ | Takamatsu Yuzo
所属機関・部署:
旧所属 愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
旧所属 愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻 について
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職名:
教授
研究分野 (1件):
情報学基礎論
研究キーワード (4件):
故障シミュレーション
, 論理シュミレーション
, 論理回路の設計・検査・診断
, 高信頼システム
競争的資金等の研究課題 (6件):
論理回路の故障診断法
論理シュミレーションの高性能化
論理回路のテスト生成法
Fault Diagnosis for Logic Circuits
Logic Simulation
Test Generation for Logic Circuits
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MISC (175件):
Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki. Fault diagnosis on multiple fault models by using pass/fail information. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 675-682
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato. Post-BIST fault diagnosis for multiple faults. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 771-775
Yoshinobu Higami, Kewal K. Saluja, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi, Yuzo Takamatsu. Fault simulation and test generation for transistor shorts using stuck-at test tools. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 690-699
Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki. Fault diagnosis on multiple fault models by using pass/fail information. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 675-682
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato. Post-BIST fault diagnosis for multiple faults. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 771-775
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書籍 (4件):
新版 論理設計入門
日新出版 2002
電子計算機と情報科学(第2版)
共立出版共立出版 1987
論理設計入門
日新出版日新出版 1984
電子計算機と情報科学
共立出版共立出版 1983
Works (2件):
遅延故障診断に関する研究
2007 - 2008
テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
2006 -
学歴 (2件):
- 1966 愛媛大学 工学部 電気工学科
- 1966 愛媛大学
学位 (1件):
工学博士 (大阪大学)
経歴 (1件):
1987 - - 愛媛大学工学部
委員歴 (1件):
1996 - 1996 情報処理学会 四国支部支部長
受賞 (1件):
1997 - IEEE Computer Society Meritorious Service Award
所属学会 (3件):
情報処理学会
, 米国電気電子学会(The Institute of Electrical & Electronics Engineers,Iuc.)
, 電子情報通信学会
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