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J-GLOBAL ID：200902113847381907   整理番号：01A0620981

単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について

Test Generation for Double Stuck-at Faults with Single Redundant Faults.
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著者 (3件)：
樋上喜信

樋上喜信 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について

, 
高橋直子

高橋直子 について

(愛媛大 大学院理工学研究科)

愛媛大 大学院理工学研究科 について

, 
高松雄三

高松雄三 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について


資料名：
愛媛大学工学部紀要  (Memoirs of the Faculty of Engineering, Ehime University)

愛媛大学工学部紀要 について


巻： 20  ページ： 217-223  発行年： 2001年02月 
JST資料番号： F0035A  ISSN： 0285-6107  CODEN： EDGKAP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
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単一冗長故障を含む論理回路は常に無故障回路と判定される。その...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*論理回路

論理回路 について

,...
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分類 (2件)：
分類
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信頼性 
(KB04040H)

信頼性 について

,  論理回路 
(NC05070B)

論理回路 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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冗長

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故障

故障 について

, 
縮退故障

縮退故障 について

, 
テスト生成

テスト生成 について


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