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J-GLOBAL ID:200902122636824704   整理番号:00A0892568

リセット機能を持つ順序回路のテスト圧縮法

Test compaction for sequential circuits with reset states.
著者 (3件):
資料名:
巻: 2000  号:ページ: 225-230  発行年: 2000年07月17日 
JST資料番号: Y0978B  ISSN: 1344-0640  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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テスト系列の短縮を目的とし,単一縮退故障を対象とし静的圧縮法...
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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論理回路  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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