文献

J-GLOBAL ID：200902122636824704   整理番号：00A0892568

リセット機能を持つ順序回路のテスト圧縮法

Test compaction for sequential circuits with reset states.

著者 (3件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工) ,  樹下行三 (大阪学院大 情報)
資料名： 情報処理学会シンポジウム論文集  (情報処理学会ワークショップ論文集)
巻： 2000  号： 8  ページ： 225-230  発行年： 2000年07月17日 
JST資料番号： Y0978B  ISSN： 1344-0640  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： テスト系列の短縮を目的とし,単一縮退故障を対象とし静的圧縮法...

シソーラス用語： *順序回路 ,...
準シソーラス用語： リセット機能 ,...

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： リセット ,  順序回路 ,  テスト