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J-GLOBAL ID：200902124654729576   整理番号：00A0973362

2重縮退故障に対するテスト生成について

著者 (3件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高橋直子 (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2000  号： 総合 6  ページ： 163  発行年： 2000年03月07日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 検出不可能な単一縮退故障が回路内に存在した場合,回路の出力関...

シソーラス用語： *組合せ回路 ,...

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  品質検査  (KB04020L)

タイトルに関連する用語 (2件)： 縮退故障 ,  テスト生成