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J-GLOBAL ID：200902151339472556   整理番号：96A0312164

電子ビームテスタを用いた活性化入力対による組合せ回路の多重故障診断

Multiple Fault Diagnosis for Combinational Circuits by using Sensitizing Input-Pairs and Electron Beam Tester.
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著者 (3件)：
柳田宣広

柳田宣広 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について

, 
高橋寛

高橋寛 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について

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高松雄三

高松雄三 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について


資料名：
愛媛大学工学部紀要  (Memoirs of the Faculty of Engineering, Ehime University)

愛媛大学工学部紀要 について


巻： 15  ページ： 531-544  発行年： 1996年02月 
JST資料番号： F0035A  ISSN： 0285-6107  CODEN： EDGKAP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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組合せ回路

組合せ回路 について

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分類 (1件)：
分類
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論理回路 
(NC05070B)

論理回路 について

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電子ビーム

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テスタ

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活性化

活性化 について

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組合せ回路

組合せ回路 について

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多重

多重 について

, 
故障診断

故障診断 について


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