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J-GLOBAL ID：200902198315477138   整理番号：99A0730371

ゲート遅延故障シミュレーションを用いた単一ゲート遅延故障の一診断法

A Method for Diagnosing Single Gate Delay Faults Using Gate Delay Fault Simulation.

著者 (3件)： 高橋寛 (愛媛大 工) ,  BOATENG K O (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J82-D-1  号： 7  ページ： 925-932  発行年： 1999年07月25日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ゲート遅延故障シミュレーションを用いた組合せ回路の単一ゲート...

シソーラス用語： *故障診断 ,...

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (10件)：

• TAKAHASHI, H. A method of generating tests for marginal delays and delay faults in combinational circuits. Proc. of ATS'97. 1997, 320-325
• GIRARD, P. An advanced diagnostic method for delay faults in combinational faulty circuits. Journal of Electronic Testing : Theory and Applications. 1995, 6, 277-294
• DUMAS, D. Effectiveness of a variable sampling time strategy for delay fault diagnosis. Proc. of the European Design and Test Conference. 1994, 518-523
• GIRARD, P. A diagnostic ATPG for delay faults based on genetic algorithms. Proc. of ITC. 1996, 286-293
• MAO, W. W. A variable observation time method for testing delay faults. Proc. of DAC. 1990, 728-731

タイトルに関連する用語 (5件)： ゲート遅延 ,  故障シミュレーション ,  ゲート ,  遅延故障 ,  診断法