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J-GLOBAL ID：200902221578437604   整理番号：09A1108398

微小遅延故障診断におけるゲート遅延変動の影響

著者 (4件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  岡山浩士 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  森本恭平 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2009  ページ： ROMBUNNO.10-8  発行年： 2009年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *遅延特性 ,  *故障診断 ,  *ゲート回路 ,  半導体集積回路 ,  半導体プロセス ,  C言語 ,  シミュレーション ,  タイミング解析 ,  プロセス変動
準シソーラス用語： ゲート遅延

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 微小 ,  遅延故障 ,  診断 ,  ゲート遅延