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J-GLOBAL ID：200902226516941880   整理番号：09A0690883

強誘電体薄膜の電歪決定のためのナノ秒時分割X線回折

著者 (8件)： 坂田修身 (高輝度光科学研究セ) ,  坂田修身 (JST-CREST) ,  矢橋牧名 (理研) ,  春木理恵 (高輝度光科学研究セ) ,  春木理恵 (JST-CREST) ,  木村滋 (高輝度光科学研究セ) ,  安井伸太郎 (東京工大 大学院) ,  舟窪浩 (東京工大 大学院)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 22nd  ページ： 58  発行年： 2009年 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *強誘電体 ,  誘電体薄膜 ,  *電歪 ,  ナノ秒 ,  *X線回折 ,  *格子歪 ,  *誘電率 ,  放射光施設 ,  ビスマス化合物 ,  鉄酸塩 ,  エピタクシー ,  *圧電定数 ,  SPring-8 ,  *ビスマスフェライト
準シソーラス用語： *鉄酸ビスマス

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： 強誘電体薄膜 ,  電歪 ,  ナノ秒 ,  時分割 ,  X線回折