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J-GLOBAL ID：200902244750738883   整理番号：05A0243213

順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について

On Finding Don’t Cares in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications to Test Compaction and Power Reduction

著者 (4件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  梶原誠司 (九州工大 情報工) ,  小林真也 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 627(CPM2004 162-174)  ページ： 41-46  発行年： 2005年01月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,順序回路のテスト系列に対して,縮退故障検出率を低下...

シソーラス用語： 順序回路 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 順序回路 ,  テスト ,  系列 ,  発見 ,  消費電力 ,  応用