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J-GLOBAL ID：200902281966029294   整理番号：06A0500270

Si超大規模集積回路でのグローバルな相互接続に対するゼロ漏話バスライン構造

Zero-Crosstalk Bus Line Structure for Global Interconnects in Si Ultra Large Scale Integration

著者 (5件)： KIMURA Makoto (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  ITO Hiroyuki (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  SUGITA Hideyuki (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  OKADA Kenichi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  MASU Kazuya (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 45  号： 6A  ページ： 4977-4981  発行年： 2006年06月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,高密度,高速度および低出力オンチップバスラインの...

シソーラス用語： 半導体 ,...
準シソーラス用語： バスライン

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分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (9件)：

• International Technology Roadmap for Semiconductors (2003).
• H. B. Bakoglu: Circuits, Interconnections, and Paekagingfor VLSI (Addison-Wesley, Reading, MA, 1995) Chaps.5-7.
• H. Ito, J. Inoue, S. Gomi, H. Sugita, K. Okada and K. Masu: IEDM Tech. Dig., 2004, p. 677.
• S. Gomi, K. Nakamura, H. Ito, K. Okada and K. Masu: IEEE Custom Integrated Circuits Conf., 2004, p. 325.
• H. Ito, H. Sugita, K. Okada and K. Masu: IEEE Asian Solid-State Circuits Conf, 2005, p. 417.

タイトルに関連する用語 (5件)： Si ,  超大規模集積回路 ,  相互接続 ,  漏話 ,  バス