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J-GLOBAL ID：200902285629119252   整理番号：09A1108391

欠陥考慮2パターンテストについて

著者 (3件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  古谷博司 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2009  ページ： ROMBUNNO.10-1  発行年： 2009年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *テストパターン ,  故障解析 ,  モデル ,  微細加工 ,  多層配線 ,  短絡【電気】 ,  遅延特性 ,  電気故障 ,  *回路試験 ,  *故障検出 ,  切断 ,  故障モデル ,  断線

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 欠陥 ,  テスト