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J-GLOBAL ID:200902290695055765   整理番号:03A0659188

Photoreflectanceによる強誘電体薄膜/SiO2/Si構造の解析

著者 (5件):
資料名:
巻: 64th  号:ページ: 470  発行年: 2003年08月30日 
JST資料番号: Y0055A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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強誘電体,反強誘電体,強弾性  ,  光物性一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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