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J-GLOBAL ID：200902290788417497   整理番号：09A1003833

かさ高い保護基を有するAuナノ粒子の分子分解能STM観察

著者 (12件)： 皆川慶嘉 (東京工大 大学院) ,  皆川慶嘉 (JST-CREST) ,  加納伸也 (東京工大 大学院) ,  加納伸也 (JST-CREST) ,  東康男 (東京工大 大学院) ,  東康男 (JST-CREST) ,  金原正幸 (筑波大) ,  金原正幸 (JST-CREST) ,  寺西利治 (筑波大) ,  寺西利治 (JST-CREST) ,  真島豊 (東京工大 大学院) ,  真島豊 (JST-CREST)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 70th  号： 3  ページ： 1148  発行年： 2009年09月08日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ナノ粒子 ,  *基 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  *金 ,  *保護基

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (7件)： かさ ,  保護基 ,  Auナノ粒子 ,  分子 ,  分解能 ,  STM ,  観察