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J-GLOBAL ID：201002210059560970   整理番号：10A1039226

ハザードの影響をマスクした微小遅延故障診断法

著者 (4件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  森本恭平 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  池田雅史 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.10-5  発行年： 2010年09月14日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： リスク ,  マスク ,  故障 ,  *故障診断 ,  情報 ,  精度 ,  シミュレーション ,  *ハザード
準シソーラス用語： スキャンフリップフロップ ,  タイミング情報 ,  影響 ,  *遅延故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： ハザード ,  マスク ,  微小 ,  遅延故障 ,  診断法