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J-GLOBAL ID：201002213025495540   整理番号：10A1039229

状態遷移図の簡単化を用いた組込みシステムに対するテスト系列生成法

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著者 (4件)： 松本拓 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  小林真也 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.10-8  発行年： 2010年09月14日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *状態遷移図 ,  *簡素化 ,  システム ,  *CAD【計算機】 ,  試験 ,  設計 ,  技術 ,  *組込みシステム ,  *改変
準シソーラス用語： *テスト系列 ,  *テスト生成 ,  テスト生成ツール ,  設計技術

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 状態遷移図 ,  簡単化 ,  組込みシステム ,  テスト ,  列生成法