| 関連リンク |  |
|---|
文献
J-GLOBAL ID：201002236509489315
整理番号：10A1039224 LOCテストに対応した抵抗性オープン故障テスト生成
- 出版者サイト 複写サービスで全文入手
- 高度な検索・分析はJDreamⅢで
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高棟佑司
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
岡崎孝昭
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2010 ページ： ROMBUNNO.10-3 発行年： 2010年09月14日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
切断
, 切断 について
電気故障
, 電気故障 について
精密化
, 精密化 について
*配線
, 配線 について
欠陥
, 欠陥 について
*テストパターン
, テストパターン について
回路変換
, 回路変換 について
*断線
断線 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
*オープン故障
, オープン故障 について
*遷移故障
, 遷移故障 について
*微細化
微細化 について
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
テスト
, テスト について
抵抗性
, 抵抗性 について
オープン故障
, オープン故障 について
テスト生成
テスト生成 について
前のページに戻る
