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J-GLOBAL ID：201002254820835683   整理番号：10A1039223

欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法

著者 (3件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  古谷博司 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.10-2  発行年： 2010年09月14日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 故障検出 ,  型 ,  *試験 ,  微細加工 ,  技術 ,  故障 ,  加工技術 ,  型紙
準シソーラス用語： パターン ,  *パターンテスト ,  *欠陥検出 ,  *検出確率 ,  *遅延故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥 ,  検出確率 ,  テスト生成