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J-GLOBAL ID：201002269201863416   整理番号：10A1039228

遷移故障における等価故障判定

著者 (4件)： 山本隆也 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  小林真也 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.10-7  発行年： 2010年09月14日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 電気故障 ,  *故障 ,  半導体 ,  生産技術 ,  精密化 ,  LSI【IC】 ,  CPU時間 ,  故障診断 ,  *故障判定
準シソーラス用語： 回路規模 ,  *遷移故障 ,  *等価故障 ,  微細化

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 遷移故障 ,  故障判定