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J-GLOBAL ID：201002274733492681   整理番号：10A0179345

電場印加下でのその場X線回折用温度制御試料チャンバ

著者 (6件)： 坂田修身 (高輝度光科学研究セ) ,  山田智明 (東京工大 大学院) ,  安井伸太郎 (東京工大 大学院) ,  中嶋誠二 (兵庫県大 大学院) ,  清水勝 (兵庫県大 大学院) ,  舟窪浩 (東京工大 大学院)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 23rd  ページ： 65  発行年： 2009年12月10日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線回折 ,  温度制御 ,  同時計測 ,  *格子歪 ,  制御装置 ,  チタン酸ストロンチウム ,  電場効果 ,  チタン酸鉛 ,  シンクロトロン放射 ,  現場測定
準シソーラス用語： その場測定

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電場印加 ,  X線回折 ,  温度制御 ,  試料 ,  チャンバ