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J-GLOBAL ID：201102232759566465   整理番号：11A1731857

ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成

著者 (3件)： 河野博志 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.10-6  発行年： 2011年09月13日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 数 ,  *故障検出 ,  *試験 ,  *電気故障 ,  出力 ,  テストパターン ,  機能 ,  拡大 ,  短絡【電気】 ,  切断
準シソーラス用語： ゲート出力 ,  *テスト生成 ,  *ファンアウト数 ,  遷移故障 ,  *遷移故障テスト生成ツール

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： ファンアウト ,  着目 ,  欠陥検出 ,  テスト生成