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J-GLOBAL ID：201102240279096224   整理番号：11A1731855

欠陥検出テスト生成法の改善法

著者 (3件)： 藤原大也 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.10-4  発行年： 2011年09月13日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *故障検出 ,  *試験 ,  モデル ,  *テストパターン ,  集合 ,  活性化 ,  短絡【電気】 ,  切断 ,  *電気故障 ,  信頼性 ,  集積回路 ,  経路長 ,  *故障モデル
準シソーラス用語： テスト集合 ,  *テスト生成法 ,  欠陥考慮2パターンテスト

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 欠陥検出 ,  テスト生成