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J-GLOBAL ID：201102281743788850   整理番号：11A1731856

抵抗性オープン故障テスト生成法の性能評価

著者 (3件)： 澤田晋佑 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.10-5  発行年： 2011年09月13日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *切断 ,  *電気故障 ,  試験 ,  *性能評価 ,  *回路変換 ,  テストパターン ,  モデル ,  集積回路 ,  信頼性 ,  故障モデル ,  *断線
準シソーラス用語： *オープン故障 ,  *テスト生成 ,  テスト生成法 ,  抵抗性オープン故障 ,  伝搬経路 ,  未検出故障

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 抵抗性 ,  オープン故障 ,  テスト生成 ,  性能評価