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J-GLOBAL ID：201102292656299518   整理番号：11A1731854

活性化経路評価関数を利用したテストパターン選択の性能改善

著者 (3件)： 酒井孝郎 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.10-3  発行年： 2011年09月13日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *評価関数 ,  *テストパターン ,  *選択 ,  改良 ,  *故障検出 ,  *活性化 ,  *短絡【電気】 ,  集積回路 ,  電気故障 ,  信頼性 ,  リード線 ,  経路長
準シソーラス用語： ブリッジ故障 ,  活性化経路評価関数 ,  高精度化

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 評価関数 ,  テストパターン ,  性能改善