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J-GLOBAL ID：201102294678883488   整理番号：11A0712653

活性化経路評価関数に基づくパターン選択

著者 (3件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  酒井孝郎 (愛媛大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2011  号： 情報・システム1  ページ： 122  発行年： 2011年02月28日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,活性化経路評価関数に基づくテストパターン選択法を提案した。予備実験結果から,最短経路伝搬テスト集合と比べて,最長経路伝搬テスト集合の方が高い欠陥検出率が得られていることが示された。(著者抄録)

シソーラス用語： *テストパターン ,  評価関数 ,  経路 ,  活性化 ,  評価試験 ,  *故障検出 ,  比率 ,  微細加工 ,  故障 ,  回路試験
準シソーラス用語： タイミング不良 ,  活性化経路 ,  活性化経路評価関数 ,  *欠陥検出 ,  検出率

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (1件)： 評価関数